Простийпошук |
Розширенийпошук |
Покажчики
|
Професійний пошук |
Рубрикатор НБУВ |
Розподілений пошук |
Бази даних
Наукова періодика України - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
| Знайдено в інших БД: | Реферативна база даних (5) |
Список видань за алфавітом назв: Авторський покажчик Покажчик назв публікацій  |
Пошуковий запит: (<.>A=Ilkiv B$<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 4 Представлено документи з 1 до 4 |
|||
| 1. | 
Ilkiv B. I. X-ray Spectral Investigation of Carbon Nanoshells [Електронний ресурс] / B. I. Ilkiv, S. Petrovska, R. Sergiienko, Ya. V. Zaulychnyy // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2012. - Vol. 1, no. 4. - С. 04NEA14-04NEA14. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2012_1_4_16 С помощью метода ультрамягкой рентгеновской эмиссионной спектроскопии исследована электронная структура графеновых нанолистов, синтезированных из окисленных графеновых нанолистов. Графеновые нанолисты и окисленные графеновые нанолисты, полученные из углеродных нановолокон, были нанесены на кремниевую подложку. Установлено, что взаимодействие электронов, занимающих <$E pi>-орбитали углеродных атомов в изгибах нанолистов, с атомами кремния приводит к увеличению гофрированности в результате стягивания атомов углерода. Выявлено наличие кислородных функциональных групп в окисленных графеновых нанолистах и окисление поверхности кремния кислородом, диссоциированным из образца при электронной бомбардировке.Електронну структуру нанокомпозитів SiO2/TiO2/C досліджено за допомогою методу ультрам'якої рентгенівської емісійної спектроскопії (УМРЕС). Енергетичний перерозподіл валентних електронів в гібридних SiO2/TiO2/C матеріалах було вивчено залежно від складу. Було одержано УМРЕС <$Eroman SiL sub { alpha sup - }>, <$Eroman CK sub { alpha sup - }> та <$Eroman OK sub { alpha sup - }>-спектри SiO2/TiO2 та SiO2/TiO2/C сполук. Було виявлено, що майже всі двофазні оксиди проникають у пори вуглецю після високочастотного вібраційного синтезу в композиті ST65 + C (50 мас % C, 17,5 мас % SiO | ||
| 2. |
Ilkiv B. I. Electronic Structure Peculiarities of Graphite Nanosheets [Електронний ресурс] / B. I. Ilkiv, O. O. Foya, S. S. Petrovska, R. A. Sergiienko, Ya. V. Zaulychnyy // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2013. - Vol. 2, no. 3. - С. 03NCNN03-03NCNN03. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2013_2_3_13 | ||
| 3. | 
Ilkiv B. I. X-ray Photoelectron Spectroscopy Study of Electronic Structure of Graphene Nanosheets [Електронний ресурс] / B. I. Ilkiv, S. S. Petrovska, R. A. Sergienko, О. О. Foya, O. V. Ilkiv, T. N. Bondarenko, E. Shibata, T. Nakamura, Ya. V. Zaulychnyy // Фізика і хімія твердого тіла. - 2015. - Т. 16, № 2. - С. 289-292. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhKhTT_2015_16_2_11 Дослідження графенових нанолистів (ГНЛ) та окиснених ГНЛ (ОГНЛ), проведено за допомогою методу рентгенівської фотоелектронної спектроскопії (РФС). На додаток до РФС зразки досліджено за допомогою методів сканувальної та просвічувальної мікроскопії. Встановлено, що аргонне бомбардування усуває функціональні карбоксильні та епоксидні групи зі зразків. Відсутність емісійних OKalpha-смуг в ОГНЛ і ГНЛ пов'язана з видаленням зі зразка кисню в результаті електронного бомбардування у ході дослідження зразка за допомогою методу ультрам'якої рентгенівської емісійної спектроскопії. | ||
| 4. | 
Ilkiv B. X-ray Spectral Investigation of SiO2/TiO2/C Nanocomposites [Електронний ресурс] / B. Ilkiv, S. Petrovska, Ya. Zaulychnyy // Journal of nano- and electronic physics. - 2019. - Vol. 11, no. 4. - С. 04001-1-04001-4. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2019_11_4_3 С помощью метода ультрамягкой рентгеновской эмиссионной спектроскопии исследована электронная структура графеновых нанолистов, синтезированных из окисленных графеновых нанолистов. Графеновые нанолисты и окисленные графеновые нанолисты, полученные из углеродных нановолокон, были нанесены на кремниевую подложку. Установлено, что взаимодействие электронов, занимающих <$E pi>-орбитали углеродных атомов в изгибах нанолистов, с атомами кремния приводит к увеличению гофрированности в результате стягивания атомов углерода. Выявлено наличие кислородных функциональных групп в окисленных графеновых нанолистах и окисление поверхности кремния кислородом, диссоциированным из образца при электронной бомбардировке.Електронну структуру нанокомпозитів SiO2/TiO2/C досліджено за допомогою методу ультрам'якої рентгенівської емісійної спектроскопії (УМРЕС). Енергетичний перерозподіл валентних електронів в гібридних SiO2/TiO2/C матеріалах було вивчено залежно від складу. Було одержано УМРЕС <$Eroman SiL sub { alpha sup - }>, <$Eroman CK sub { alpha sup - }> та <$Eroman OK sub { alpha sup - }>-спектри SiO2/TiO2 та SiO2/TiO2/C сполук. Було виявлено, що майже всі двофазні оксиди проникають у пори вуглецю після високочастотного вібраційного синтезу в композиті ST65 + C (50 мас % C, 17,5 мас % SiO | ||
Попередній перегляд: 
Реферативна БД
 |
| Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів |
 Пам`ятка користувача |